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产品详情
标准功能
样品观察与测试全流程电动化；单点 Raman／荧光光谱测试；Raman／荧光 Mapping 成像。
支持多波长扩展，并可定制特色测试功能。
选配能力
电动偏振分辨、低温台及电学样品台适配。
模块化组件
电动渐变滤光片调节激光功率；电动物镜转盘配合三维样品台；旋转波片进行偏振调制；六孔滤光片转轮支持光路配置。
应用方向
材料分子与结构识别、二维材料晶格振动、应力表征及生物分子研究。
资料出处：《Raman系统_V2》第2–4页。
扩展测量与成像功能
以下功能统一归入激光共聚焦 Raman 系统，可根据实验需求选择配置。
反射／透射光谱共聚焦扫描成像系统
支持白光反射、透射光谱及Mapping成像，提供偏振与照明方式选配。
系统介绍
白光反射谱及Mapping成像；白光透射谱及Mapping成像。
可选电动变偏振采谱、低温或电学样品台、共聚焦或科勒照明、透射无色散设计，以及入射和收集双口电动切换。
图片说明：共聚焦平台模块示意，最终配置按具体系统确定。
资料出处：《Raman系统_V2》第3–4页。
白光／荧光角分辨系统
面向光学材料的能级、吸收与发光特性研究，按实验需求配置角分辨测量。
系统介绍
资料将其列为标准系统，应用方向包括半导体带隙、无机材料吸收和贵金属纳米材料表面等离激元共振研究。
资料未给出角度范围、分辨率和波长范围，具体配置需确认。
图片说明：共聚焦平台模块示意，最终配置按具体系统确定。
资料出处：《Raman系统_V2》第3–4页。
偏振分辨二次谐波扫描成像系统
用于非线性光学过程、二维材料晶体结构及偏振相关特性的表征。
系统介绍
应用方向包括二维材料晶体对称、铁电材料电极化、反铁磁材料自旋耦合及SHG／THG非线性光学表征。
资料未给出统一数值规格，按材料、激发波长与测试目标配置。
图片说明：共聚焦平台模块示意，最终配置按具体系统确定。
资料出处：《Raman系统_V2》第3–4页。
荧光寿命扫描成像系统（FLIM）
面向半导体及发光材料动力学过程、缺陷发光和荧光标记相互作用研究。
系统介绍
用于载流子弛豫与扩散、发光动力学、晶圆缺陷及荧光标记材料研究。
资料将FLIM列为标准系统，未给出时间分辨率或寿命测量范围，选型时需确认。
图片说明：共聚焦平台模块示意，最终配置按具体系统确定。
资料出处：《Raman系统_V2》第3–4页。
多功能光电流扫描成像系统
面向光电材料和器件的扫描成像研究，可按采集需求进行系统配置。
系统介绍
资料将该系统列为标准系统之一，配套模块化软件可控制位移台、物镜切换、LED照明与激光功率。
资料未列光电流灵敏度与扫描范围，应按实验目标与采集方案确认。
图片说明：共聚焦平台模块示意，最终配置按具体系统确定。
资料出处：《Raman系统_V2》第3–4页。
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技术与产品资料
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